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| Angebotsdatum: |
19. September 2019
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| Art der Stelle: |
Doktorarbeit |
| Fachgebiet: |
Chemie > Physikalische Chemie
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| Titel des Themas: |
Doktorarbeit / Mobilität von Ladungsträgern in selbst-assemblierenden Monolagen
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| Institut: |
Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
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| Adresse: |
| Herr Hartmut Dr. Gliemann |
| Hermann-von-Helmholtz-Platz 1 |
| 76344 Eggenstein-Leopoldshafen |
| Tel.: 0721-608 26435 Fax.:
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| Bundesland: Baden-Württemberg |
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| Homepage: |
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| E-Mail Kontakt: |
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| Beschreibung: |
Die experimentelle Bestimmung intrinsischer Ladungsträgerbeweglichkeiten in organischen Halbleiter-Materialien stellt nach wie vor eine große experimentelle Herausforderung dar, da bei den meisten der verfügbaren Methoden die Messungen durch extrinsische Beiträge (Defekte, Verunreinigungen, Korngrenzen) beeinflusst werden. Motiviert durch jüngste Ergebnisse, soll im Rahmen dieses Projekts eine neue Methode entwickelt (bzw. weiterentwickelt) werden, die es gestatten wird, die intrinsische Ladungsträgermobilität in selbst-assemblierten Monolagen (self-assembled monolayers, SAMs)organischer Halbleitern (organic semiconductors, OSC) für hochgeordnete Bereiche mit genau bekannter Struktur zu bestimmen. Für die im Rahmen des SFB 1249 relevanten OSC-Zielmoleküle (z.B. Tetraazapentacen) werden diese dafür durch Anbringen einer Kupplungsfunktionalität (Alkin, ggf. aktiviert) modifiziert, an die dann mittels Klick-Chemie eine Ankergruppe (Thiol, ggf. geschützt) angebracht wird. Aus diesen OSC-Thiolen werden dann hochgeordnete Adschichten auf Au-Oberflächen hergestellt. Die Bestimmung der elektrischen Transporteigenschaften innerhalb der so hergestellten SAMs erfolgt dann mittels der Messung der elektrischen Leitfähigkeiten von unterschiedlich großen Strukturen, die von oben mit einer leitfähigen Mikrosonde („conductive probe microscopy“) kontaktiert werden. Die Herstellung dieser 2D-Strukturen erfolgt mittels AFM-basierter Lithographie. Aus den elektrischen Kenndaten der SAM-Strukturen lassen sich die Ladungsträgerbeweglichkeiten ermitteln. Da die Strukturen der entsprechenden SAM-Bereiche zuverlässig bestimmt werden können, ist hier ein aussagekräftiger Vergleich mit den Ergebnissen von molekulardynamischen Rechnungen möglich, die - im Rahmen einer Kooperation - speziell für dieses System durchgeführt werden
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| Methoden: |
Schwingubgsspektroskopie, Rastersondenmikroskopie (AFM und STM), oberflächenanalytische Methoden (XPS und ToF-SIMS, einfache Methoden der Oberflächenpräparation
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| Anfangsdatum: |
19. September 2019 |
| Geschätzte Dauer: |
3 Jahre
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| Bezahlung: |
TvöD 13
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| Papers: |
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| Sonstiges: |
Wir suchen motivierte Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler, die nachgewiesene Erfahrung im Bereich der Oberflächenanalyse mittels Rastersondenverfahren haben. Die Arbeit wird im Rahmen des SFB1249 durchgeführt.
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